愛德萬推數位模組SoC測試

中央社 – 2012年11月29日 上午8:32

(中央社記者鍾榮峰台北29日電)針對系統單晶片(SoC)高速傳輸介面測試,測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)推出數位模組方案。

愛德萬測試表示,系統單晶片裝置有各式介面高速測試需求,包括序列式、並行式及記憶介面(如PCI-Express與雙倍資料傳輸率DDR連接)等。

為支援各種SoC介面測試,愛德萬測試推出數位模組方案,資料傳輸率高達8 Gbps,主要功能包括時脈資料回復(CDR)、抖動注入、I/O死帶消除、多重閃控操作等;模組並具備功能性測試抽象化功能,可進一步縮短週期時間並簡化除錯。1011129

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